Soutenance de HDR d'Alexandre BOYERVendredi 5 juillet 2019 à 10:30 au LAAS/CNRS

Alexandre BOYER, Maitre de Conférences au département GEI de l'INSA de Toulouse et chercheur au LAAS/CNRS, équipe ESE, soutiendra l'Habilitation à Diriger des Recherches (HDR) en spécialité Composants et Systèmes de Gestion de l'Energie le Vendredi 5 juillet 2019 à 10:30, salle de conférences au LAAS/CNRS.
Le Jury est composé de Sonia BEN DHIA, Professeur au GEI, Flavio CANAVERO, Professeur au Politecnico di Torino, Bernard FLECHET, Professeur à l'Université de Savoie, Cyril LUXEY, Professeur à l'Université Nice-Sophia Antipolis et Frédéric MORANCHO, Professeur à l'Université Paul Sabatier.

Le mémoire intitulé " Contribution à la caractérisation et la modélisation de la CEM des circuits intégrés " présente les activités de recherche menés par Alexandre BOYER sur la compatibilité électromagnétique (CEM) des circuits intégrés.

La CEM constitue une contrainte forte pour l'ensemble des systèmes électriques et électroniques afin de garantir un fonctionnement fiable et sûr. Face à l'intégration et la complexité croissante des systèmes électroniques, mais aussi à des besoins de plus en plus forts concernant la sûreté de fonctionnement, la maîtrise de la CEM reste incontournable. L'avènement des systèmes autonomes, que ce soit en décision ou en énergie, et interconnectés renforce cette exigence, mais fait aussi apparaître de nouveaux verrous pour garantir la CEM. Il est indispensable d'améliorer constamment les moyens de caractérisation afin de mieux analyser les problèmes CEM et qualifier les équipements électroniques. La mesure ne constitue cependant pas le seul moyen pour répondre efficacement aux problèmes de CEM. La simulation constitue un formidable outil pour clarifier l'origine des problèmes de CEM dans des systèmes complexes, prédire la conformité CEM et déterminer les solutions adéquates. Le développement de la simulation en CEM passe par la modélisation et les flots de construction des modèles adaptés aux contraintes industrielles.

L'amélioration des outils de caractérisation et des techniques de modélisation pour la CEM constitue la problématique générale de l'ensemble de mes travaux de recherche. Ceux-ci se focalisent néanmoins sur les circuits intégrés en raison du rôle central qu'ils jouent dans les problèmes de CEM. En outre, en raison de la forte propriété intellectuelle qu'ils intègrent, les circuits intégrés restent souvent une boîte noire pour un grand nombre d'utilisateurs. Cela rend les tâches de caractérisation et de modélisation de la CEM plus ardues, justifiant une expertise à l'échelle du circuit intégré.